首页> 中文期刊> 《电子测量技术》 >Credence带来革命性的测试经济化

Credence带来革命性的测试经济化

             

摘要

作为一款高产能的测试解决方案,Sapphire D-10的专门设计致力于微控制器,无线基带,显示驱动以及消费类混合信号器件的低成本测试。此系统还可用于200Mbps的圆片测试,支持很高并行度的封装测试。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号