精密LCR测试仪SMD夹具设计技术研究

摘要

本文阐述了高频精密LCR测试仪中,SMD测试夹具设计方法中的关键技术,并给出了实验结果,所设计的夹具可以工作在75kHz^30MHz,阻抗附加误差小于1%±0.1Ω,夹具重复性好,可靠性高。