光纤剖面折射率分布测量新方法

摘要

本文在简述逆几何光学理论基础上，讨论了如何结合计算机图象处理技术根据光线轨迹得出光媒质的剖面折射率分布方法，并且用在改型干涉显微镜基础上建立的ＣＣＤ摄像显微镜实验装置作出验证，从而也提出一种光纤剖面折射率分布测量的简便、易行、精度可靠的新方法。