电阻率横向剖面法在倾斜断层精确探测中的应用研究

摘要

在横向剖面法研究的基础上,选取30度和60度倾斜良导体模型,利用有限元三维数值模拟方法,对比研究横向剖面法和常规剖面法的异常特征.研究结果表明:两方法对断层的倾向都有较好反映,对倾角难以判定.为研究倾角定量化判定,本文提出了横向剖面电阻率成像方法与常规的电阻率层析成像方法对比研究,结果表明:两者均较准确的反映出断层的倾角变化,前者效果略优于后者.