基于电路板结构信息的近似近邻排序网络集生成算法

摘要

结构测试算法是一类采用有限制故障模型获得紧凑性和完备性指标更为优化的边界扫描测试算法,现有的对该类算法的研究大多是在假定已具备近邻排序网络集的基础上进行的理论研究。本文提出了一种利用被测电路板的结构信息和最短路径算法获得准确的有限制短路故障模型,并基于此模型生成近似近邻网络排序集的算法。该算法获取电路板结构信息的方法简便科学,其数据计算在现有条件下易于实现,并且关键步骤可以编程完成,为结构测试算法从理论探讨进展到工程应用提供了必要条件。