X80管线钢钝化膜的光电化学性能

摘要

利用电容测试法和光电流技术研究了X80管线钢在NaHCO_3/Na2CO_3缓冲溶液中所成钝化膜的半导体性能和光电流特性,分析了成膜电位、成膜时间、Cl^-浓度、溶液pH值以及成膜温度等因素对膜光电流响应的影响,结果表明,X80管线钢钝化膜的Mott-Schottky直线部分的斜率和光电流均为正,表明钝化膜呈现n型半导体特性,随着成膜电位的增加,成膜时间延长、溶液pH值升高、成膜温度及溶液中Cl-浓度的减小,Mott-Schottky直线部分的斜率和光电流响应均呈增大趋势,表明钝化膜内施主密度减小。