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ATamp;T准则下完全检验的最优设计(英文)

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本文研究了完全检验的质量控制问题,将广泛用于X-控制图的AT＆amp;T准则应用于完全检验,并根据完全检验的特点,提出一种新的最优模型,数值实验结果表明AT＆amp;T准则下的完全检验优于传统的完全检验。

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来源
《数理统计与管理》 |2003年第6期|29-35|共7页
作者
王强; 谢王利;
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作者单位

对外经济贸易大学国地贸易学院;

北京工业大学应用数理学院;

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正文语种 chi
中图分类质量控制 ;
关键词
完全检验; 质量控制; X控制图; ATT准则;

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