一种新颖的全方位多扫描设计的测试压缩方法

摘要

提出了一种基于展开宽度可调的解压缩技术和X-压缩的多扫描电路的测试压缩方法。采用可变宽度的扫描链解压缩方法,对测试输入进行解压缩,且对于测试响应,结合了X-压缩的优点,测试响应整合器最小化故障被屏蔽的概率,扫描链的结构采取广播扫描模式。在此基础上对其改进,使其可同时处理取值相反的触发器。两种工作模式(串行模式和并行模式)可进一步处理剩余的紧凑的触发器值。提出的测试压缩算法的优点是:可节省测试设备的存储需求,减少测试输入输出引脚数和测试通道数,降低测试应用时间,从而全面提高测试激励数据和测试响应数据的压缩率。实验结果证明了该算法与以往算法相比较的优势。