GaAsMESFET热特性电学法测量与分析

摘要

采用快速脉冲技术，研制了ＧａＡｓＭＥＳＦＥＴ热特性测试仪，并测量、分析了ＧａＡｓＭＥＳＦＥＴ冷响应曲线、温升、稳态热阻、瞬态热阻及热响应曲线。采用该方法，可在器件正常工作条件下，快速、非破坏性地测量分析器件的芯片、粘接及管壳各部分的热阻。