NiTi形状记忆合金中缺陷和电子密度的正电子湮没研究

摘要

用正电子寿命谱测量法研究了Ni50.78Ti49.22合金B2相、R相和B19’相的微观缺陷和自由电子密度。通过比较Ni50.78Ti49.22合金在285和227K时的寿命谱参数,可以发现R相的自由电子密度比B2相的低;R相缺陷的开空间较大,但其缺陷浓度比B2相的低。在100K时Ni50.78Ti49.22合金处于B19’相。与R相相比,B19’相的自由电子密度增加,缺陷的开空间减小,同时缺陷浓度增大。随着温度的降低,Ni50.78Ti49.22合金中的微观缺陷和自由电子在多阶段马氏体转变中(B2→R→B19’相转变)起着重要作用。