化学还原法合成均匀银纳米线的条件研究

摘要

采用化学还原法,以乙二醇为还原剂,聚乙烯砒咯烷酮(PVP K30)为表面活性剂,通过还原硝酸银(AgNO3)溶液直接制备了高浓度的Ag纳米线溶液,并研究了PVP与AgNO3溶液摩尔浓度比和AgNO3溶液浓度对Ag纳米线生长的影响。用扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)对纳米Ag晶体的生长形貌进行了比较,利用X射线衍射(XRD)分析了Ag纳米线的晶体结构。研究结果表明,在160℃下,当AgNO3溶液浓度为0.6M,PVP/AgNO3的浓度比为6时,可制备规则的面心立方晶系纯相的Ag纳米线,直径为60-100nm,长度可达10μm,且具有产量高和重复性强的特点。