高密度基因芯片探针布局方法

摘要

为了提高基因芯片制备质量和检测的准确性 ,提出两种基因芯片布局方法 ,一是分子印章凸点优化布局方法 ,另一种是基于探针杂交解链温度的梯度场布局方法。利用上述两种方法对所设计的高密度基因芯片进行控针布局实验 ,结果表明 :第一种方法能够使制备基因芯片的分子印章上凸点均匀分布 ,解决误压印问题 ,从而提高基因芯片的制备质量 ;而第二种方法能够使基因芯片上的探针按照杂交解链温度有序地组织起来 。