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微处理机控制的中规模集成电路测试系统的程序设计

         

摘要

本文介绍了微处理机控制的中规模集成电路测试系统的软件设计思想,着重介绍了在测试程序的通用性、节约内存和提高测试速度方面所做的努力。主要是: 一、设计了一种直观的,使用较为方便的表格,更换测试品种时,用户只需按产品技术要求进行填写。二、建立了比较紧凑的测试数据的内部结构。三、编写了数据转换程序,由计算机将用户填写的测试表格转换为内部测试数据。

著录项

  • 来源
    《电子测量技术 》 |1982年第5期|8-14|共7页
  • 作者

    康庄; 甄越;

  • 作者单位

    南京市电子计算所;

    南京半导体器件总厂;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
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