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张翔九; 胡际璜; 庞涛; 罗赴;
复旦大学物理系;
机译:通过对SiO2薄膜击穿后电阻的统计分析研究介电击穿机理
机译:荷重粒子和脉冲电压作用下金属氧化物半导体结构中SiO2薄膜的击穿机理比较分析
机译:SiO2薄膜中的电击穿机理
机译:新的击穿机理研究:阻挡层金属渗透引起低k电介质中的软击穿
机译:加工引起的损伤对低k有机硅酸盐的导电机理和时间依赖性介电击穿的影响。
机译:快速注热退火后注入低通量Si +的SiO2薄膜在室温下的光致发光位移
机译:SiO2薄膜击穿时的氢释放机理
机译:siO2薄膜击穿机理。
机译:制备低折射率的sio2薄膜的方法
机译:低折射率的sio2薄膜的生产方法
机译:具有低反向击穿的薄膜锗二极管
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