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用QS1型西林电桥测量介质损耗角正切tgδ时Cx连接线的影响及其消除方法

         

摘要

<正> 用QS1型西林电桥测量介质损耗角正切tgδ时,接试品的连接线一般为10M左右。这一引线的芯线与屏蔽层间的电容对测量tgδ的影响如图1所示。图中E为Cx引线的屏蔽层接点。

著录项

  • 来源
    《绝缘材料》 |1986年第4期|18-20|共3页
  • 作者

    张古银;

  • 作者单位

    安徽省电力试验研究所;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
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