MOS存贮器研制过程中的逐级测试

摘要

＜正＞ 在电子计算机主存贮器的研制过程中,存贮器元件,单元板（以存贮片为主的扦件板）、模体到存贮系统的一系列测试将对主存贮器系统的性能、指标、可靠性以及研制进度带来重要影响。我们在研制某机主存的过程中,从理论分析,实际试验和现实可能性等方面出发,对各级的测试总结了一套方法,现在该主存已正式运转,实践证明经过这一系列的测试是可行的也是有效的。存贮器研制过程中的逐级测试,共分四级:即存贮器单片测试、单元板测试、模体测试和系统测试。各级测试的详细情况分述于下: