简讯

         

摘要

<正>上海科技大学半导体器件物理研究室试制出两类VVMOS器件,其主要性能介绍如下:一、高频VVMOS功率晶体管:工作频率:f=400兆赫输出功率:P0=10瓦系列功率增益:Kp≥5分贝漏电流:IOS=2安培漏源击穿电压:BVDS≥60伏开启电压:Vr=0~2伏开态电阻:Ron=3~4欧姆开关时间:t≤10毫微秒

著录项

  • 来源
    《半导体技术 》 |1987年第1期|7-7|共1页
  • 作者

    赵国柱;

  • 作者单位

    上海科技大学;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
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