Ho^(3+)掺杂Ge-In-Sb-S玻璃陶瓷光谱特性

摘要

采用熔融淬冷法和热处理工艺制备了系列掺Ho3+的透明GeS2-In2S3-Sb2S3硫系玻璃陶瓷。测试了Ho3+掺杂的基质玻璃和玻璃陶瓷样品的密度、显微硬度、红外光谱以及在900 nm激光泵浦下的近红外及中红外荧光光谱。结果表明:热处理后样品析出的晶相为In2S3和Sb2S3颗粒的混合体,晶粒尺寸限制在～100 nm以内;而原本掺杂在玻璃基质中的Ho3+富集在析出的In2S3晶体周围引起了Ho3+局部浓度的增加。因此,热处理后玻璃陶瓷样品的近红外和中红外荧光强度增加。