水稻光温敏核不育系培矮64S在不同光周期/温度下表达谱的变化

摘要

用含3328个基因的cDNA阵列分析了水稻光温敏核不育系培矮64S于长日照/高温及短日照/低温下幼穗的基因表达谱特征.统计数据表明,以短日照/低温(花粉可育)为参比,长日照/高温(花粉不育)下表达丰度显著变化的基因高达14.60%,482个基因下调表达,仅4个基因上调表达.以实时荧光定量PCR技术对所有上调表达基因和随机选择的9个下调表达基因进行了检测,各基因表达丰度的变化趋势一致,验证了cDNA阵列杂交结果的可靠性.这些差异表达基因几乎涉及所有的细胞生物学反应,但MAPK同系物MMK1和MMK2在mRNA水平表现出截然不同的基因表达特征,大量参与信号传导的信号分子的表达丰度也发生明显变化.可以推测,花粉形态建成及相应的生理功能所需要的程序性转录调控受严重干扰可能是MAPK信号传导途径发生显著改变所导致.