首页> 中文期刊>半导体光电 >基于APD阵列的单光子计数成像研究

基于APD阵列的单光子计数成像研究

     

摘要

简要介绍了雪崩光电二极管(APD)阵列光子计数成像原理,建立了基于泊松点过程的APD阵列的单光子响应模型。将由光子数、像素点相关组成的目标图形作为激励源加入到APD阵列的单光子响应模型中去,采用蒙特卡洛仿真方法得到多次门控信号下的目标图像。仿真结果与相同照度下的微光图像的比较证明,采用APD阵列进行光子计数被动成像具有灵敏度高、响应速度快的特点,可以广泛地应用到多个科研领域。但是由于器件恢复时间的限制,该项技术目前还只能应用于主动成像和极微弱光照度条件下的被动成像。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号