Tm^(3+)掺杂65GeS_2-25Ga_2S_3-10CsI微晶玻璃光谱特性

摘要

采用适当的热处理工艺制备了系列掺Tm^(3+)的透明GeS_2-Ga_2S_3-Csl硫卤微晶玻璃。测试了基质玻璃和微晶玻璃样品的密度、显微硬度、红外光谱以及在800nm激光泵浦下的近红外及中红外荧光光谱。结果表明:热处理后样品析出的晶相颗粒为Ga_2S_3和GeS_2的混合体,晶粒尺寸限制在100nm以内;而原本掺杂在玻璃基质中的Tm^(3+)富集在析出的Ga_2S_3和GeS_2晶体的周围,引起了Tm^(3+)周围环境的改变。因此,热处理后的微晶玻璃样品的近红外和中红外荧光强度增强。