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桂强; 王立军; 张国祥; 张淑兰;
国家非晶微晶工程技术研究中心安泰科技股份有限公司钢铁研究总院;
北京100081;
非晶带; 晶粒; 数量密度; 透射电子显微镜;
机译:使用小角度和广角X射线散射识别沸石非晶化过程中的低密度和高密度非晶相
机译:两相纳米晶/非晶NdPrFe17熔纺带的制冷剂容量提高
机译:两相纳米晶/非晶NdPrFe_(17)熔纺带的制冷剂容量增强
机译:用非晶结晶异质结确定PECVD a-Si:H中的能隙态密度
机译:熔体可混溶的半结晶聚合物共混物中的微观结构和晶态非晶相。
机译:快速凝固过程中不同熔体旋转速度对Ti-Zr-Ni-Cr-V非晶带的力学性能可调
机译:在熔体的结构,非晶化过程中的遗传以及对非晶合金Fe₈₀Si₆B₁₄的磁性能的影响
机译:非晶Ge薄膜扫描激光晶化过程中相界动力学的测量
机译:确定例如偏振态的方法。半导体晶圆结构化过程中的可见光辐射包括评估测得的强度和测得的强度之和,以确定辐射的偏振态
机译:用电子束结晶化等离子体增强化学气相沉积形成的氢态非晶硅薄膜的方法,制造多晶硅硅酸盐薄膜的方法和用该方法制造的多晶硅硅酸盐薄膜的方法
机译:确定非晶态材料的带隙的方法,用于确定例如技术应用中晶体固体的化学键,涉及基于频率评估非晶材料的带隙温度
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