首页> 中文期刊> 《邮电设计技术》 >G.655光纤偏振模色散测试方法对比及光纤链路测试探讨

G.655光纤偏振模色散测试方法对比及光纤链路测试探讨

         

摘要

介绍G.655光纤的偏振模色散(PMD)测试方法;通过对比测试、光缆敷设前后PDM值变化测试分析,以及光缆串接测试与计算值比较,摸索G.655光纤的PMD的变化.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号