一种恢复综合孔径微波辐射计展源图像的CLEAN算法

摘要

CLEAN算法在处理对象是点源时,即使系统噪声很大,恢复点源图像的效果仍然比较理想,且思想简单、易于实现,因此在综合孔径微波辐射计点源图像的恢复中得到了广泛的应用和发展.但当处理对象是展源时,该算法恢复的辐射计图像存在着条纹现象.借鉴最大熵图像复原算法的约束思想,提出了一种改进的CLEAN算法.仿真结果表明,图像质量得到了进一步改善.