基于测试系统模型的测试路径选择算法研究

摘要

针对测试硬件种类增多导致的测试路径连接复杂、人工配置困难的问题,提出了一种在建立测试系统数据模型的基础上实现的测试路径自动选择算法;该算法将测试设备及被测元件的通道信息纳入到测试系统数据模型中,根据硬件设备信号通道的具体条件为依据,以通过测试路径后测试信号的衰减值最小为最优路径的判别条件,通过测试系统软硬件的交互,实现了测试路径的最优配置;该算法提高了测试路径配置的效率,同时提高了测试程序集的可移植性.