存在故障的数字微流控芯片重构后测试

摘要

数字微流控芯片广泛用于生命科学领域,它对可靠性的要求很苛刻.由于数字微流控芯片的可重构性,在测试诊断的故障数小于一定比例时,电极阵列会被重构以撇开故障单元继续使用,而对于重构后的不规则电极单元,必须在使用前做强健完备的测试.首次提出对重构后的不规则电极单元进行并行测试:将重构电极阵列分为多个等大子阵列,每个子阵列分配1个测试液滴进行并行测试,目标为最小化测试时间.本文将测试时间最小化问题转化为分发池的分配问题,并为该NP完全问题建立ILP模型,计算最优测试时间.实验结果表明,该方法避免了重复诊断,最小化了故障后重构芯片的测试时间,获得了较好的测试效果.