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利用相变存储器不对称性的写入优化方法

     

摘要

相变存储器具有集成度高、功耗低、非易失等优良特性,是作为非易失性内存最有潜力的存储介质之一.如何降低其写入延时和增加其使用寿命,是PCM作为非易失性内存时亟需解决的问题.为此,提出利用相变存储器擦除和写入时间不对称的特点擦写独立的写入方法,RSIW(Reset and Set Independently Write).该方法不同于传统的写入方案,将写和擦的操作分离,让慢速的写操作在空闲时进行,使得相变存储器的写入速度获得显著提升.同时,RSIW还能结合磨损均衡的策略,有效地均衡各个块的写入频率.对擦写独立的写入方法和实施细节进行了描述,对比了同类使用相变存储器擦写不对称性进行优化的方案,最后使用gem5仿真器进行了实验,根据实验结果,该方法对比同类的技术能将系统的运行效率提高37.1%~69.1%.

著录项

  • 来源
    《计算机工程与应用》|2021年第14期|75-82|共8页
  • 作者单位

    中国科学院 上海微系统与信息技术研究所 信息功能材料国家重点实验室 上海 200050;

    上海科技大学 信息科学与技术学院 上海 201210;

    中国科学院大学 北京 100049;

    中国科学院 上海微系统与信息技术研究所 信息功能材料国家重点实验室 上海 200050;

    中国科学院 上海微系统与信息技术研究所 信息功能材料国家重点实验室 上海 200050;

    中国科学院大学 北京 100049;

    中国科学院 上海微系统与信息技术研究所 信息功能材料国家重点实验室 上海 200050;

    中国科学院 上海微系统与信息技术研究所 信息功能材料国家重点实验室 上海 200050;

    上海科技大学 信息科学与技术学院 上海 201210;

    中国科学院大学 北京 100049;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 存贮器;
  • 关键词

    相变存储器; 擦写不对称性; 磨损均衡; 写入延时;

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