首页> 外文期刊>中国物理:英文版 >A unified charge-based model for SOI MOSFETs applicable from intrinsic to heavily doped channel
【24h】

A unified charge-based model for SOI MOSFETs applicable from intrinsic to heavily doped channel

机译:适用于SOI MOSFET的基于电荷的统一模型,适用于本征通道到重掺杂通道

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
       

著录项

获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号