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朱樟明; 万达经; 杨银堂; 恩云飞;
Microelectronics;
School;
Xi'ian;
University;
Xi'an;
710071;
China;
互连系统; 延迟模型; 测试; 统计; Galerkin方法; CMOS工艺; CMOS集成电路; 纳米集成电路;
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