Temperature-frequency dependence and mechanism of dielectric properties for γ-Y2Si2O7

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• 来源
  《中国物理：英文版》 |2010年第1期|P.510-514|共5页
• 作者

  无;

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• 作者单位

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• 收录信息 中国科学引文数据库(CSCD);中国科技论文与引文数据库(CSTPCD);
• 原文格式 PDF
• 正文语种 CHI
• 中图分类 TQ174.758;
• 关键词

  介电性能; 温度; 机制; 频率; 低介电损耗; 粉体技术; SiO2; 弛豫行为;

  机译：介电性能;温度;机制;频率;低介电损耗;粉体技术;SiO2;弛豫行为;