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Threshold switching uniformity in In2Se3 nanowire-based phase change memory

         

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  • 来源
    《中国物理:英文版》 |2015年第5期|567-571|共5页
  • 作者

    Chen Jian; Du Gang; Liu Xiao-Yan;

  • 作者单位

    Shenzhen Graduate School,Peking University,Shenzhen 518055,China;

    Institute of Microelectronics,Peking University,Beijing 100871,China;

    Institute of Microelectronics,Peking University,Beijing 100871,China;

    Institute of Microelectronics,Peking University,Beijing 100871,China;

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