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摘要

美斯蒂文斯理工学院用聚焦离子束-电镜扫描(FIB-SEM)研究压制PBX的空隙分布近来,美国美国斯蒂文斯理工学院采用聚焦离子束-电镜扫描(FIB-SEM)研究压制PBX的空隙,结合3D成像模型能够立体显示炸药配方中空隙分布。该空隙表征技术还能对纳米配方进行表征,通过对一种纳米RDX的压制PBX配方的表征,发现空隙的平均尺寸为250 nm,同时还得到了空隙的体积、形状及其立体分布。

著录项

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    《含能材料》|2018年第9期|725|共1页
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  • 正文语种 chi
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  • 入库时间 2022-08-18 00:48:25

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