2型糖尿病患者一级亲属中糖耐量状况和胰岛素抵抗及其与胰岛β细胞功能的观察

摘要

目的 探讨2型糖尿病(T2DM)患者一级亲属中糖代谢异常和胰岛素抵抗(IR)与胰岛β细胞功能缺陷的关系. 方法对78个T2DM核心家系中530例T2DM患者一级亲属进行口服葡萄糖耐量试验(OGTT),不包括受检前已明确诊断为糖尿病(DM)者;选择121例非DM非糖耐量异常的同胞配偶为正常对照组.应用HOMA-IR,ΔI30/ΔG30(包括ΔI30*ΔG30-1*HOMA-IR-1)来分别评估胰岛素敏感性和胰岛β细胞功能.并分析HOMA-IR和ΔI30/ΔG30(包括ΔI30*ΔG30-1*HOMA-IR-1)与OGTT中曲线下增加的葡萄糖面积(AUCg)之间的相关性. 结果 530例T2DM患者一级亲属中新诊断DM 80例,患病率为15%;空腹血糖受损和糖耐量受损(IFG和IGT)患病率为32%;糖耐量正常(NGT)为53%.随着糖耐量降低,HOMA-IR明显增加,ΔI30/ΔG30(包括ΔI30*ΔG30-1*HOMA-IR-1)明显降低(P<0.05～0.01).NGT组的ΔI30/ΔG30、ΔI30*ΔG30-1*HOMA-IR-1显著低于正常对照组.HOMA-IR,常用对数转换后的ΔI30ΔG30以及ΔI30*ΔG30-1*HOMA-IR-1均与AUCg 呈线性相关关系(r分别为0.289,-0.566,-0.693,P均<0.01). 结论 T2DM患者一级亲属中,普遍存在的糖代谢异常状况与IR和胰岛β细胞功能缺陷有关,其中β细胞功能缺陷可能是影响口服葡萄糖耐量水平的主要因素.