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统计控制技术在氧化钨还原过程的应用

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摘要

文章讨论了统计过程控制(SPC)技术在控制氧化钨还原上的应用。对还原过程进行严格审核以确定使 SPC 技术在应用上产生困难的因素。提出了对这些问题的解决方法并通过特例阐明几种不同的统计控制方法的应用.

著录项

来源
《中国钨业》|1994年第7期|P.14-22|共9页
作者
D.R.Moyle; T.LHenson; E.R.Kimmel; 陈竟清;
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作者单位

美国OSRAM SYLVANIA 公司;

美国OSRAM SYLVANIA 公司;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类钨;
关键词
氧化钨还原过程统计控制统计过程控制 EWMA 目标值控制方法过程改进 FSSS 过程变化;

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