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ICP-AES技术对钼酸铵产品中钨、硅和铝的测定

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摘要

采用由感耦合等离子体原子发射光谱分析技术(ICP-AES)对钼酸铵产品中的钨、铝和硅的最佳测试条件的选择进行了探讨,并用所选的条件进行测试.方法简便、快速、准确,检测限和精密度可满足分析要求.

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来源
《中国钼业》 |2002年第3期|42-44|共3页
作者
赵昱;
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作者单位

金钼科技有限责任公司,陕西,渭南,714000;

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正文语种 chi
中图分类其他化工原料;
关键词
ICP-AES 钨硅铝;

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