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超声衍射时差法检测技术研究

         

摘要

描述了超声波衍射时差法的基本原理,讨论了平行扫查(B扫描)和非平行扫查(D扫描)两种扫查方式,研究了波形图和灰度图两种缺陷图谱的相位特征,推导了缺陷精确定位定量的计算公式,并通过标准试块试验对三种典型缺陷进行了图谱分析.研究结果表明,TOFD技术能识别向表面延伸的缺陷,能对缺陷精确定量和定位并且检出率高,检测速度快.该方法在国内无损检测领域将得到广泛应用.

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