首页> 中文期刊> 《中国集成电路》 >多内核系统的非侵入式调试与性能优化

多内核系统的非侵入式调试与性能优化

         

摘要

运行在多个内核上的有效分区无缺陷软件对充分发挥多内核系统优势非常关键。调试如此复杂的软件系统会提升复杂程度,因为不能访问子系统接口、总线以及同步处理范例。有了这一点认识,开发人员需要对能够加速调试进程,克服此类复杂多内核系统制约的片上调试技术、工具与技巧有更深入的理解。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号