华虹NEC携手Advantest成功开发RFID芯片多同测解决方案

摘要

上海华虹NEC电子有限公司与爱德万测试（Advantest）近日共同宣布，已成功合作开发ISO14443协议标准的RFID芯片晶圆级大规模多同测解决方案，并正式进入量产阶段。结合华虹NEC在智能卡和安全类芯片领域先进的生产工艺和测试开发能力，华虹NEC与Advantest共同开发出的测试方案，能迅速准确地进行RFID反馈识别，其量产测试良率亦得到大客户认可。