利用新一代虚拟探测功能实现内存的信号去嵌测试

摘要

1 内存测试中的难点 内存广泛应用于各类电子产品中,内存测试也是产品测试中的热点和难点.内存测试中最为关键的测试项目为DQ/DQS/CLK之间的时序关系.JEDEC规范规定：测量这几个信号之间的时序时,测试点需要选择在靠近内存的最末端.而当前内存芯片大部分是BGA封装,有的甚至是正反贴的,这样,有时候就很难在内存芯片的最末端找到测试点进行测试.