根管显微镜下离体上颌第一磨牙近中颊根第二根管的发现率比较

摘要

目的：比较根管显微镜下离体上颌第一磨牙近中颊根第二根管的发现率。方法：选取我院口腔科于2009年12月-2012年12月间拔除的106颗离体上颌第一磨牙作为研究对象，随机分为 S 组与 D 组，每组各53颗。S 组采用改良开髓口，根管显微镜下探查寻找 MB2，计算和统计发现率；D 组则将53颗牙制成透明标本，观察近颊根的解剖形态，并通过根管显微镜查找 MB2，计算和统计发现率，对两组试验的发现率进行分析比较。结果：在改良开髓口根管显微镜条件下，S 组中共计在42颗牙下发现 MB2，S 组的发现率为79.25%，D 组中共计在45颗牙下发现 MB2，D 组的发现率为84.91%，两组比较差异无统计学意义（P>0．05）。结论：使用根管显微镜 MB2的发现率与实际发生率相接近。