低温密闭碱熔–电感耦合等离子体发射光谱法测定岩石矿物中二氧化硅

摘要

建立电感耦合等离子体发射光谱法测定岩石矿物样品中二氧化硅含量的方法.在防腐高压消解罐中,用氢氧化钠低温消解样品,以盐酸浸提,采用电感耦合等离子体发射光谱法进行测定.二氧化硅的质量浓度在0～50μg/mL范围内与光谱发射强度线性关系良好,线性相关系数为0.9998,检出限为0.45％.用该方法对国家一级标准物质进行测定,测定结果的相对标准偏差为0.08％～0.25％(n=12),样品加标回收率为99.55％～100.17％.该方法适用于大批量岩石矿物样品的测定.