首页> 中文期刊> 《华中电力》 >校正脉冲的上升时间对局部放电测量的影响研究

校正脉冲的上升时间对局部放电测量的影响研究

         

摘要

针对RC检测阻抗并联测试回路,对不同校正脉冲的前沿上升时间对回路响应的影响进行了研究。校正脉冲的前沿上升时间τ不同,使得从检测阻抗上获得的响应不同,当τ〈1.0μs时,τ越大,响应脉冲的幅值越小;当τ〉1.0μs时,响应脉冲波形已发生了变化,幅值减小得更多。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号