硅胶表面季铵功能化接枝过程的^(29)Si CP/MS NMR和XPS法研究

摘要

本工作采用29Si CP/MS NMR和XPS测试方法对硅胶表面接枝季铵功能基团的过程和机理进行了分析。XPS光谱分析结果表明,硅基季铵化产品的XPS谱中含有Si、O、C、N元素,并出现了以R4N+形式存在的401.26eV结合能峰,表明硅胶表面已被季铵化。TGA-DTA分析其接枝率为0.46mmol/g,同时,本工作采用29Si CP/MS NMR法对接枝机理进行探索研究,得出了接枝的可能反应途径和产品分子结构。