低温小立体角α谱仪的研制

摘要

研制了１套工作温度在室温至－２７．５℃、面源对探测器所张的相对立体角在５．２８７×１０－２—１．１１９×１０－４之间、分辨率达到１３．３ｋｅＶ的低温小立体角半导体α谱仪，研究了谱仪分辨率与探测器温度和相对立体角之间的关系。该谱仪已应用于α放射性比、α粒子能量、α粒子辐射几率和α放射性活度的测量。