利用高能缓发γ射线测定裂变数

杨洋; 冯晶; 杨毅; 刘世龙; 王朝辉; 苏晓斌; 侯龙

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利用高能缓发γ射线测定裂变数

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利用裂变产额法得到短时间辐照235U样品的裂变总数,通过大体积NaI探测器测量3 MeV以上高能缓发γ射线总计数随时间的变化,从而得到一次裂变3 MeV以上高能缓发γ射线总发射率随时间的变化规律,并给出脉冲辐照下高能缓发γ射线的发射率.通过高能缓发γ射线测量了两块235 U样品的裂变数,其相对不确定度小于4％.

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来源
《原子能科学技术》 |2013年第4期|517-522|共6页
作者
杨洋; 冯晶; 杨毅; 刘世龙; 王朝辉; 苏晓斌; 侯龙;
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作者单位

中国原子能科学研究院核数据重点实验室,北京 102413;

兰州大学核科学与技术学院,甘肃兰州 730000;

中国原子能科学研究院核数据重点实验室,北京 102413;

中国原子能科学研究院核数据重点实验室,北京 102413;

中国原子能科学研究院核数据重点实验室,北京 102413;

中国原子能科学研究院核数据重点实验室,北京 102413;

中国原子能科学研究院核数据重点实验室,北京 102413;

中国原子能科学研究院核数据重点实验室,北京 102413;

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正文语种 chi
中图分类中子和其他辐射探测器;
关键词
缓发γ射线; 裂变数; NaI探测器;

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