基于PXI的集成电路测试机的设计研究

摘要

基于ATE进行的测试程序开发周期长、开发成本高、设备昂贵,增加了测试成本;采用传统仪器,验证成本较低,但存在仪器众多、仪器间连线混乱、系统调试困难、测试操作繁琐等问题,进行功能验证时对信号的实时捕获存在困难和误差.针对上述问题,设计了一种基于PXI架构和模块化设计的集成电路测试机,是针对数字类、模拟类和混合类等集成芯片的数字混合信号测试系统,实现集成电路的封装测试.以PXI作为通信平台,可以测试数字芯片,以及提供各种模拟仿真信号来对半导体芯片的功能进行验证和仿真.测试机采用模块化的功能板卡为系统硬件架构的基础,使产品的价位降低和性能提高,可为满足当前的测试要求选择相应的模块,亦可着眼于将来测试升级的需要,更换若干模块而不是更换整个测试系统.