首页> 中文期刊> 《电子技术应用》 >中规模集成电路功能测试仪的设计

中规模集成电路功能测试仪的设计

             

摘要

设计了一款针对学校实验室常用的中规模集成电路芯片的功能测试仪.测试仪的核心AT89C55单片机管理和控制整个测试流程,对测试数据进行处理、判断,并通过LCD、LED显示和指示其测试结果.详细介绍了测试仪的总体设计思路,给出了ADC0809、DAC0832、LM555、SG3524等芯片的详细测试电路图.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号