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基于光谱成像的伪装效果分析

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摘要

从光谱成像原理和识别机理出发,在分析现有伪装效果评价方法的基础上,讨论了光谱成像识别技术在伪装效果评价中的应用.分析了现有伪装技术的优点和不足,对光谱成像识别技术与现有伪装效果评价方法的特点进行了讨论分析.

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来源
《航天电子对抗》 |2011年第1期|30-32|共3页
作者
刘益民; 王家营; 刘伟;
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作者单位

总装工程兵科研二所,北京,100093;

二炮青州士官学校,山东,青州,262500;

总装工程兵科研二所,北京,100093;

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正文语种 chi
中图分类电子对抗（干扰及抗干扰）;
关键词
光谱成像; 伪装; 效果评价;

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