整体叶盘叶片型面CMM测量路径规划技术

摘要

由于整体叶盘结构复杂,叶片型面为复杂自由曲面,扭曲度大,加工精度要求高,相邻叶片之间的通道深而窄、开敞性差,因此造成整体叶盘制造相对单叶片困难,相应也为其测量增加了难度。测量机对叶盘型面进行测量,首先要进行路径规划,路径规划的好坏决定CMM测量的效率和有效性。