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非线性相位耦合的切片谱分析方法

     

摘要

本文提出利用维谱方法对二次相位耦合进行分析,该方法同原有双诸方法相比具有计算量小,执行简便,易于获得较高的分辨率等优点;本文还将二次相位耦合的研究拓广到复数域,根据累积量的不同定义方式得到了不同的结果,最后本文定义了维谱,对另外一种重要的非线性相位耦合──三次相位耦合进行了分析,取得了良好的效果仿真实验验证了文中结论。

著录项

  • 来源
    《电子学报》|1998年第10期|104-109|共6页
  • 作者

    张严; 王树勋;

  • 作者单位
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 02:33:50

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